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 In Situ TEM Imaging of Defect Dynamics under Electrical Bias in Resistive Switching Rutile-TiO2 电阻开关金红石-TiO2中电偏压下缺陷动力学的原位TEM成像
相关领域
材料科学
金红石
偏压
透射电子显微镜
电阻式触摸屏
氧气
空位缺陷
化学物理
纳米技术
分析化学（期刊）
结晶学
化学工程
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化学
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物理
电气工程
有机化学
量子力学
色谱法
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Ranga Kamaladasa; Abhishek Sharma; Yu-Ting Lai; W. Chen; Paul A. Salvador; et al 出版日期：2014-12-22 |
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