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 Characterizing oxidation, thickness, and composition of metallic glass thin films with combined electron probe microanalysis and X-ray photoelectron spectroscopy 结合电子探针显微分析和X射线光电子能谱表征金属玻璃薄膜的氧化、厚度和成分
相关领域
X射线光电子能谱
微量分析
电子探针显微分析
金属
材料科学
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期刊：Applied Surface Science 作者：Sachin V. Muley; William O. Nachlas; Aurélien Moy; Paul M. Voyles; John Fournelle 出版日期：2024-05-23 |
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