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 Nitrogen-induced decrease of the electron effective mass in GaAs1−xNx thin films measured by thermomagnetic transport phenomena 用热磁输运现象测量GaAs1-xNx薄膜中氮诱导的电子有效质量降低
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期刊：Applied Physics Letters 作者：David L. Young; John F. Geisz; T. J. Coutts 出版日期：2003-02-24 |
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