标题 |
A comparative study on omnidirectional anti-reflection SiO2 nanostructure films coating by glancing angle deposition
扫角沉积全向增透SiO2纳米结构薄膜的比较研究
相关领域
材料科学
光学
纳米结构
薄膜
基质(水族馆)
硅
光电子学
纳米技术
海洋学
物理
地质学
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期刊: 作者:Rattagan Prachachet; Mati Horprathum; Pitak Eiamchai; Saksorn Limwichean; Chanunthorn Chananonnawathorn; et al 出版日期:2018-02-23 |
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