标题 |
Semiconductor Wafer Defect Classification Using Support Vector Machine with Weighted Dynamic Time Warping Kernel Function
基于加权动态时间规整核函数的支持向量机半导体晶圆缺陷分类
相关领域
薄脆饼
支持向量机
动态时间归整
图像扭曲
核(代数)
半导体
模式识别(心理学)
人工智能
功能(生物学)
计算机科学
数学
材料科学
光电子学
纯数学
进化生物学
生物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Industrial Engineering & Management Systems 作者:Young‐Seon Jeong 出版日期:2017-09-30 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|