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 Modeling and Investigating Total Ionizing Dose Impact on FeFET 模拟和研究总电离剂量对FeFET的影响
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电离辐射
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晶体管
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材料科学
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期刊：IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits 作者：Munazza Sayed; Kai Ni; Hussam Amrouch 出版日期：2023-10-19 |
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