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Remarkable Stability Improvement with a High‐Performance PEALD‐IZO/IGZO Top‐Gate Thin‐Film Transistor via Modulating Dual‐Channel Effects
通过调制双沟道效应,高性能PEALD-IZO/IGZO顶栅薄膜晶体管的稳定性显著提高
相关领域
材料科学
光电子学
薄膜晶体管
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晶体管
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期刊:Advanced Materials Interfaces 作者:Yoon‐Seo Kim; Won‐Bum Lee; Hye‐Jin Oh; TaeHyun Hong; Jin‐Seong Park 出版日期:2022-04-29 |
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