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 Quantitative thermal characterization of microelectronic devices by using CCD-based thermoreflectance microscopy 用CCD热反射显微镜定量表征微电子器件的热特性
相关领域
微电子
材料科学
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期刊：Proceedings of SPIE 作者：Dong Uk Kim; Seon Young Ryu; Jun Ki Kim; Ki Soo Chang 出版日期：2014-03-07 |
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