标题 |
A new exploration of quality testing technique for the wafer-scale graphene film based on the terahertz vector network analysis technology
基于太赫兹矢量网络分析技术的晶片级石墨烯薄膜质量检测技术新探索
相关领域
石墨烯
太赫兹辐射
同质性(统计学)
材料科学
薄脆饼
表征(材料科学)
拉曼光谱
光电子学
制作
各向异性
纳米技术
光学
计算机科学
物理
医学
替代医学
病理
机器学习
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:Cheng Chen; Ali Pourkazemi; Wu Zhao; Niko Van den Brande; Tom Hauffman; et al 出版日期:2023-04-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|