标题 |
In situ atom-resolved observation of Si (111) 7×7 surface with F radical and Ar ion irradiation simulated atomic layer etching
F自由基和氦离子照射Si(111)7 x 7表面模拟原子层腐蚀的原位原子分辨观察
相关领域
辐照
原位
离子
蚀刻(微加工)
Atom(片上系统)
图层(电子)
原子物理学
材料科学
曲面(拓扑)
硅
化学
分析化学(期刊)
分子物理学
纳米技术
光电子学
物理
色谱法
计算机科学
核物理学
嵌入式系统
几何学
数学
有机化学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者:Takayoshi Tsutsumi; Atsuki Asano; Hiroki Kondo; Kenji Ishikawa; Makoto Sekine; et al 出版日期:2024-04-26 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|