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 Linearizing the frequency‐stiffness relation in contact resonance atomic force microscopy for facilitated mechanical characterization 接触共振原子力显微镜中频率-刚度关系的线性化以促进力学表征
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期刊：Microscopy Research and Technique 作者：Wenting Wang; Wenhao Zhang; Yuhang Chen 出版日期：2022-02-04 |
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