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Numerical Simulation of Scanning Electrochemical Microscopy Experiments with Frame-Shaped Integrated Atomic Force Microscopy−SECM Probes Using the Boundary Element Method
用边界元法数值模拟框架形集成原子力显微镜-SECM探针的扫描电化学显微镜实验
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期刊:Analytical Chemistry 作者:Oleg Sklyar; Angelika Kueng; Christine Kranz; Boris Mizaikoff; Alois Lugstein; et al 出版日期:2004-12-21 |
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