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![]() 氧空位对铁电氧化铪锆薄膜电应力响应和耐久性的影响
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Antik Mallick; Megan K. Lenox; Thomas E. Beechem; Jon F. Ihlefeld; Nikhil Shukla 出版日期:2023-03-27 |
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