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 Effective Variational-Autoencoder-Based Generative Models for Highly Imbalanced Fault Detection Data in Semiconductor Manufacturing 基于变分自动编码器的半导体制造中高度不平衡故障检测数据的有效生成模型
相关领域
自编码
计算机科学
人工智能
Boosting（机器学习）
模式识别（心理学）
半导体器件制造
故障检测与隔离
分类器（UML）
原始数据
机器学习
数据挖掘
深度学习
薄脆饼
工程类
电气工程
执行机构
程序设计语言
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Shu-Kai S. Fan; Du-Ming Tsai; Pei-Chi Yeh 出版日期：2023-05-01 |
| 求助人 | |
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