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Low-Temperature Fabrication and Characteristics of Lanthanum Indium Zinc Oxide Thin-Film Transistors
镧铟锌氧化物薄膜晶体管的低温制备及特性
相关领域
物理
材料科学
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Jae Chul Park; Sang Wook Kim; Chang Jung Kim; Ho‐Nyeon Lee 出版日期:2012-05-01 |
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