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 书籍（章节） Application of Deep Learning for Wafer Defect Classification in Semiconductor Manufacturing 深度学习在半导体制造晶圆缺陷分类中的应用
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期刊：Algorithms for intelligent systems 作者：Nguyen Thi Minh Hanh; Trần Minh Đức 出版日期：2023-01-01 |
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