标题 |
Micron-scale 1D migration of interstitial-type dislocation loops in aluminum
铝中间隙型位错环的微米级一维迁移
相关领域
材料科学
位错
辐照
透射电子显微镜
电子束处理
电子
铝
电子显微镜
阴极射线
原位
原子单位
结晶学
复合材料
纳米技术
光学
化学
核物理学
物理
有机化学
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Materials Characterization 作者:Ranran Li; Xiaoou Yi; Wentuo Han; Pingping Liu; Qian Zhan; et al 出版日期:2023-09-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|