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 Depth localization of subsurface defects by optical dark-field confocal microscopy 光学暗场共聚焦显微镜对亚表面缺陷的深度定位
相关领域
暗场显微术
共焦显微镜
共焦
显微镜
光学
材料科学
亮场显微术
领域（数学）
光学显微镜
扫描共焦电子显微镜
物理
数学
扫描电子显微镜
纯数学
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| 其它 |
期刊：Measurement Science and Technology 作者：Jian Liu; Yong Jiang; Z.C. Wang; Chongliang Zou; Chenguang Liu 出版日期：2024-07-02 |
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