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SEM-Based Morphological Analysis Of The New Generation AION-Based Abrasive Grains (Abral®) With Reference to Al2O3/SiC/cBN Abrasives
新一代AION基磨料（Abral®）与Al2O3/SiC/cBN磨料的扫描电镜形貌分析
相关领域
磨料
材料科学
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微晶
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碳化硅
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复合材料
冶金
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期刊：Acta Microscopica 作者：Krzysztof Nadolny; Wojciech Kapłonek 出版日期：2015-05-29 |
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