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 Analysis of impact ionization on RF power LDMOS reliability under RF life test in radar system 雷达系统射频寿命试验下冲击电离对射频功率LDMOS可靠性的影响分析
相关领域
LDMOS
撞击电离
晶体管
材料科学
无线电频率
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电离
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：M.A. Belaïd 出版日期：2022-08-18 |
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