标题 |
Deep Convolutional Generative Adversarial Networks-Based Data Augmentation Method for Classifying Class-Imbalanced Defect Patterns in Wafer Bin Map
基于深度卷积生成对抗网络的晶圆仓图中类别不平衡缺陷模式分类数据扩充方法
相关领域
模式识别(心理学)
人工智能
计算机科学
分类器(UML)
卷积神经网络
生成对抗网络
自编码
深度学习
数据挖掘
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其它 |
期刊:Applied Sciences 作者:Sangwoo Park; Cheolwoo You 出版日期:2023-04-28 |
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