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The impact of electron beam damage on the detection of indium-rich localisation centres in InGaN quantum wells using transmission electron microscopy
电子束损伤对透射电子显微镜探测InGaN量子阱中富铟定位中心的影响
相关领域
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期刊:Journal of Materials Science 作者:T. M. Smeeton; C. J. Humphreys; J. S. Barnard; M. J. Kappers 出版日期:2006-04-17 |
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