标题 |
A back-illuminated 6 μm SPAD depth sensor with PDE 36.5% at 940 nm via combination of dual diffraction structure and 2×2 on-chip lens
采用双衍射结构和2 × 2片上透镜组合的背照式6 μ m SPAD深度传感器,在940 nm处PDE为36.5%
相关领域
衍射
材料科学
光电子学
光学
炸薯条
衍射效率
浅沟隔离
棱锥(几何)
沟槽
物理
电气工程
纳米技术
工程类
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Y. Fujisaki; H. Tsugawa; Kosei Sakai; Hiroaki Kumagai; R. Nakamura; et al 出版日期:2023-06-11 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|