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The effect of work function during electron spectroscopy measurements in Scanning Field-Emission Microscopy
扫描场发射显微镜电子能谱测量中功函数的影响
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Michal Bodík; C.G.H. Walker; Maksym Hennadiiovych Demydenko; T. Michlmayr; T. Bähler; et al 出版日期:2022-08-01 |
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