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 Flux–Charge Analysis of Two-Memristor-Based Chua's Circuit: Dimensionality Decreasing Model for Detecting Extreme Multistability 基于双忆阻器的蔡氏电路的磁通电荷分析：检测极端多稳态的降维模型
相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Mo Chen; Mengxia Sun; Han Bao; Yihua Hu; Bocheng Bao 出版日期：2019-04-02 |
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