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 Bias-temperature instabilities and radiation effects in MOS devices MOS器件的偏置温度不稳定性和辐射效应
相关领域
辐照
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期刊：IEEE transactions on nuclear science 作者：X. J. Zhou; D.M. Fleetwood; J.A. Felix; Evgeni Gusev; C. D’Emic 出版日期：2005-12-01 |
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