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 Swept-Source Optical Coherence Tomography System with an On-Chip K-Clock Based on Silicon Photonics 基于硅光子学的片上K时钟扫描源光学相干层析成像系统
相关领域
干涉测量
小型化
光学相干层析成像
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光子学
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光学
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电子工程
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期刊： 作者：Elizaveta P. Grakhova; I.V. Stepanov; Evgeniy A. Talynev; Anton Ivanov; Grigory S. Voronkov; et al 出版日期：2023-10-19 |
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