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 Asymmetry Degradation Behavior Under Forward and Backward Overlap Dynamical Stress in Large-Size Amorphous InGaZnO TFT 大尺寸非晶InGaZnO TFT在正向和反向重叠动态应力下的非对称退化行为
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ruohong Duan; Zhixiang Zou; Zhong Xu; Haoxiong Zhang; Xibin Shao; et al 出版日期：2024-08-06 |
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