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P‐166: Interface Defect Engineering Strategy to Enhance Flexibility of Thin Film Encapsulation by Inhibiting Crack Propagation
P-166:通过抑制裂纹扩展来增强薄膜封装柔性的界面缺陷工程策略
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期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:Sooyeon Baek; Kyung Cheol Choi 出版日期:2024-06-01 |
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