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 Characterization and testing of subsurface metallic microstrip line using scanning microwave techniques 利用扫描微波技术表征和测试亚表面金属微带线
相关领域
微带线
微波食品加热
表征（材料科学）
材料科学
光电子学
光学
纳米技术
工程类
物理
电信
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| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Guoliang Wei; Huan Fei Wen; Tao Pei; Qi Wang; Jun Xing; et al 出版日期：2025-03-18 |
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