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Defect regulation of AlN films based on Al-rich AlN targets
基于富Al AlN靶的AlN薄膜缺陷调控
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Dandan Wen; Yue Shen; PeiYang Sun; Jian Huang; Feng Gu; et al 出版日期:2022-08-19 |
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