标题 |
Scanning electron microscope imaging by selective e-beaming using photoelectron beams from semiconductor photocathodes
使用来自半导体光电阴极的光电子束通过选择性电子束进行扫描电子显微镜成像
相关领域
光电阴极
扫描电子显微镜
光学
材料科学
半导体
电子枪
阴极射线
场电子发射
电子
电子束诱导沉积
光电子学
扫描透射电子显微镜
物理
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Tomohiro Nishitani; Yuta Arakawa; Shotaro Noda; Atsushi Koizumi; Daiki Sato; et al 出版日期:2022-11-11 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|