标题 |
Comparison of TiN and TiAlN as a diffusion barrier deposited by atomic layer deposition
原子层沉积TiN和TiAlN作为扩散阻挡层的比较
相关领域
扩散阻挡层
原子层沉积
锡
材料科学
图层(电子)
沉积(地质)
阻挡层
扩散
原子层外延
化学工程
冶金
纳米技术
物理
地质学
热力学
古生物学
工程类
沉积物
|
网址 |
AI链接 elsevierpure.com |
DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
其它 |
期刊:Journal of the Korean Physical Society 作者:Ju Youn Kim; Hyo Kyeom Kim; Young Do Kim; Young Do Kim; Won Mok Kim; et al 出版日期:2002-01-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|