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 High spatial resolution grain orientation and strain mapping in thin films using polychromatic submicron x-ray diffraction 多色亚微米x射线衍射薄膜中的高空间分辨率晶粒取向和应变映射
相关领域
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Nobumichi Tamura; Alastair A. MacDowell; Richard Celestre; H. A. Padmore; B. C. Valek; et al 出版日期：2002-05-20 |
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