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Ruggedness of Silicon Power MOSFETs—Part I: Cell Structure Design Related Failure: A Review
硅功率MOSFET的坚固性。第一部分:电池结构设计相关失效:综述
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:R. Tambone; Alessandro Ferrara; Ralf Siemieniec; A. Wood; Filippo Magrini; et al 出版日期:2024-01-01 |
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