| 标题 |
 A transfer length model for contact resistance of two-layer systems with arbitrary interlayer coupling under the contacts 任意层间耦合两层系统接触电阻的传递长度模型
相关领域
联轴节（管道）
材料科学
接触电阻
量子隧道
非线性系统
图层（电子）
二极管
输电线路
机械
凝聚态物理
复合材料
物理
光电子学
工程类
电气工程
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Keh-Ching Huang; David B. Janes; Kevin J. Webb; M. R. Melloch 出版日期：1996-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
薰硝壤
Singularity
Leonardi
可靠的书桃
paparazzi221
一一
完美的天空
pcr163
HEIKU
寻道图强
咖啡豆
陈军
yufanhui
彳亍1117
tuanheqi
pluto
8R60d8
sissiarno
坚强亦丝
皖公网安备34019202002308
