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 Performance and reliability improvement of all-solution processed indium zinc oxide thin-film transistor by UV irradiation treatment 紫外光辐照处理提高全溶液处理氧化铟锌薄膜晶体管的性能和可靠性
相关领域
材料科学
薄膜晶体管
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期刊：Journal of physics. D, Applied physics 作者：Umu Hanifah; Juan Paolo Bermundo; Mutsunori Uenuma; Yukiharu Uraoka 出版日期：2023-07-12 |
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