Effect of stress on fluorite-structured ferroelectric thin films for semiconductor devices

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标题	Effect of stress on fluorite-structured ferroelectric thin films for semiconductor devices 应力对半导体器件用萤石结构铁电薄膜的影响相关领域哈夫尼亚铁电性退火（玻璃）材料科学凝聚态物理物理复合材料光电子学陶瓷立方氧化锆电介质
网址	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S136980012... AI链接 arxiv.org arxiv.orgdoi.org
DOI	10.1021/acsaelm.3c01104 doi
求助人	坤坤在 2024-12-24 11:21:26 发布自河北，悬赏 10 积分
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