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 Direct Measurement of the Thickness-Dependent Electronic Band Structure ofMoS2Using Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy 用角分辨光电发射光谱直接测量MoS2的厚度相关电子能带结构
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期刊：Physical Review Letters 作者：Wencan Jin; Po-Chun Yeh; Nader Zaki; Datong Zhang; Jerzy T. Sadowski; et al 出版日期：2013-09-03 |
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