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 Source–drain contact impacts on electrical performances and low frequency noise of InZnO thin-film transistors down to 7 K 源漏接触对InZnO薄膜晶体管7 K以下电性能和低频噪声的影响
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Yayi Chen; X. Liu; Yuan Liu; Rongsheng Chen; Jianfeng Zhang; et al 出版日期：2024-04-22 |
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