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Thermal Boundary Resistance in GaN Films Measured by Time Domain Thermoreflectance with Robust Monte Carlo Uncertainty Estimation
基于鲁棒蒙特卡罗不确定性估计的时域热反射测量GaN薄膜热边界电阻
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期刊:Nanoscale and Microscale Thermophysical Engineering 作者:Thomas L. Bougher; Luke Yates; Chien-Fong Lo; Wayne Johnson; Samuel Graham; et al 出版日期:2016-01-02 |
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