| 标题 |
 X-ray Topography Used to Observe Dislocations in Epitaxially Grown Diamond Film 外延生长金刚石薄膜中位错的X射线形貌观察
相关领域
外延
位错
钻石
材料科学
GSM演进的增强数据速率
半导体
光电子学
Crystal（编程语言）
凝聚态物理
结晶学
纳米技术
复合材料
化学
计算机科学
物理
图层（电子）
电信
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Y. Kato; Hamao Umezawa; Hiroshi Yamaguchi; Shinichi Shikata 出版日期：2012-08-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
毛豆
杳鸢
坚强的广山
HEIKU
爱静静
子车茗
宇文远锋
柳叶刀小猪
宁少爷
weishen
寻道图强
tuanheqi
little_forest
sissiarno
嗯哼
劲秉
一一
YifanWang
InfoNinja
皖公网安备34019202002308
