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Understanding Grain Boundary Electrical Resistivity in Cu: The Effect of Boundary Structure
了解Cu的晶界电阻率:边界结构的影响
相关领域
电阻率和电导率
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期刊:ACS Nano 作者:Hanna Bishara; Subin Lee; Tobias Brink; Matteo Ghidelli; Gerhard Dehm 出版日期:2021-10-04 |
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