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![]() 基于铜电镀在室温下同时进行堆叠芯片中的层间铜互连和TSV填充
相关领域
铜
电镀
材料科学
镀铜
通过硅通孔
图层(电子)
光电子学
炸薯条
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硅
电气工程
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期刊:AIP Advances 作者:Mengru Huang; Linhong Lu; Jingyang Ran; Fashun Yang; Kui Ma 出版日期:2024-07-01 |
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