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Loss Characterization and Modeling of Class II Multilayer Ceramic Capacitors: A Synergistic Material-Microstructure-Device Approach
II类多层陶瓷电容器的损耗表征和建模:材料-微结构-器件协同方法
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Yunlei Jiang; Borong Hu; Yanfeng Shen; Xufu Ren; Steve Sandler; et al 出版日期:2023-06-15 |
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