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 Real-Time Measurement of the Evolution of Growth Facets during SiC PVT Bulk Growth Using 3-D X-Ray Computed Tomography 用三维X射线计算机断层扫描实时测量SiC PVT体生长过程中生长面的演变
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期刊：Materials science forum 作者：Georg Neubauer; Michael Salamon; Norman Uhlmann; Peter J. Wellmann 出版日期：2014-02-26 |
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