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 Degradation Behavior and Mechanism of Metalized Film Capacitor Under Ultrahigh Field 超高场下金属化薄膜电容器的降解行为及机制
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期刊：IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 作者：Lu Cheng; Zhiyuan Li; Jingran Wang; Zhe Xu; Wenfeng Liu; et al 出版日期：2023-04-01 |
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