标题 |
High-accuracy spectral interferometer with multi-Fabry–Perot Etalon for thickness measurement of the silicon wafer
用于硅片厚度测量的多法布里-珀罗标准具高精度光谱干涉仪
相关领域
法布里-珀罗干涉仪
光学
干涉测量
材料科学
薄脆饼
硅
光电子学
物理
波长
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期刊:Optics Communications 作者:Meiyun Chen; Shuiling Pang; Jinglun Zhou; Heng Wu; Hirokazu Matsumoto; et al 出版日期:2021-08-06 |
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