标题 |
Recent developments in surface studies of GaN and AlN
GaN和AlN表面研究的新进展
相关领域
双层
材料科学
面(心理学)
分子束外延
外延
曲面(拓扑)
金属
氮化镓
凝聚态物理
光电子学
结晶学
纳米技术
化学
图层(电子)
物理
冶金
几何学
社会心理学
人格
生物化学
膜
数学
心理学
五大性格特征
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者:R. M. Feenstra; Dong Yang; C. D. Lee; John E. Northrup 出版日期:2005-05-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|