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 Total Subgap Range Density of States-Based Analysis of the Effect of Oxygen Flow Rate on the Bias Stress Instabilities in a-IGZO TFTs 氧流量对a-IGZO薄膜晶体管偏压应力不稳定性影响的全子带隙范围密度分析
相关领域
材料科学
电荷（物理）
薄膜晶体管
物理
分析化学（期刊）
化学
量子力学
有机化学
电极
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ga Won Yang; Jingyu Park; Changwook Kim; Dong Myong Kim; Sung-Jin Choi; et al 出版日期：2022-01-01 |
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